產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
上海鑄金分析儀器有限公司可以提供不同型號類型的進(jìn)口&國產(chǎn)直讀光譜儀解決方案。本頁面介紹了納克(NCS)CMOS全譜直讀光譜儀Spark 8000特點(diǎn)、主要技術(shù)參數(shù)等信息，歡迎查看了解。如您需要了解更多信息，可聯(lián)系鑄金。鑄金儀器可根據(jù)多年和行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及您的實(shí)際情況提供適合的全譜直讀光譜儀或其它檢測儀器解決方案。
詳情介紹：
納克(NCS)CMOS全譜直讀光譜儀Spark 8000簡介：
Spark 8000可廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、鋼鐵和有色金屬等行業(yè)， 在汽車制造、航空航天、船舶、機(jī)電設(shè)備、工程機(jī)械、電子電工、教育、科研等領(lǐng)域的原料、零件、產(chǎn)品工藝研發(fā)方面都有廣泛的應(yīng)用，可用于 Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、 Sn、Mn 等金屬及其合金的樣品分析。
Spark 8000全譜火花直讀光譜儀采用高分辨率線陣CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor）作為檢測器，CMOS 檢測儀器集成性高、讀取速度更快、功耗低、長期穩(wěn)定性更高；每個(gè)像素自帶放大器，可對特殊元素進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)整，增加儀器的準(zhǔn)確度，降低分析限，實(shí)現(xiàn)全譜掃描。采用智能控制光室充氣系統(tǒng)，儀器性能更穩(wěn)定，服務(wù)期限更長久。海量的譜線使分析不再受限，曲線分段跳轉(zhuǎn)同一元素不同譜線間實(shí)現(xiàn)無縫銜接，拓展分析范圍第三元素干擾校正使元素分析更加準(zhǔn)確，可以在用戶現(xiàn)場任意增加材料基體和分析元素而無需增加硬件，維護(hù)保養(yǎng)方便。能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料；網(wǎng)口采集傳輸，速度快，通用性更強(qiáng)。
納克(NCS)CMOS全譜直讀光譜儀Spark 8000儀器特點(diǎn):
全固態(tài)數(shù)字火花光源
能量、頻率連續(xù)可調(diào)
頻率可達(dá) 1000Hz
MTBF（平均無故障間相隔時(shí)間）＞ 5000 小時(shí)
同軸自旋式氣路激發(fā)臺
自旋氣路
增壓式自吹掃
激發(fā)充分
千次激發(fā)無需清理
恒溫系統(tǒng)
硅膠加熱膜，加熱均勻、穩(wěn)定
高精度溫控系統(tǒng)，溫度控制精度±0.1℃
多重保溫措施，隔JUE環(huán)境溫度影響，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定
自保護(hù)透鏡隔離閥
便于維護(hù)
消除誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染
采集系統(tǒng)
網(wǎng)口傳輸方式，數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠
多線程數(shù)據(jù)采集，采集速度快、頻率高
第三元素干擾
自動扣除元素間加合、倍增干擾，分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
分析軟件
簡潔清新、功能強(qiáng)大
多語言版本（中、英、俄、德）
智能冶煉配料計(jì)算
牌號識別
支持碳當(dāng)量等自動計(jì)算功能
曲線分段跳轉(zhuǎn)
元素含量高低曲線分段，自動匹配，分析范圍廣
未知樣品自動匹配Z佳分析程序
高速智能校正
單次激發(fā)即可校正全譜
自動校準(zhǔn)像素漂移，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
納克(NCS)CMOS全譜直讀光譜儀Spark 8000主要技術(shù)參數(shù)：
像素?cái)?shù) 4096
像素尺寸 8μm
光柵焦距 500mm
刻線 2700 條 /mm
線分辨率 0.7407nm/mm
像素分辨率0.005926nm
譜線范圍 130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）
頻率 1000Hz
電源要求 220V±10%，單相，16A，2.5KVA
重 量 70kg
外形尺寸 500cm×825cm×451cm（寬 * 深 * 高）
Spark 8000可廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、鋼鐵和有色金屬等行業(yè)， 在汽車制造、航空航天、船舶、機(jī)電設(shè)備、工程機(jī)械、電子電工、教育、科研等領(lǐng)域的原料、零件、產(chǎn)品工藝研發(fā)方面都有廣泛的應(yīng)用，可用于 Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、 Sn、Mn 等金屬及其合金的樣品分析。
Spark 8000全譜火花直讀光譜儀采用高分辨率線陣CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor）作為檢測器，CMOS 檢測儀器集成性高、讀取速度更快、功耗低、長期穩(wěn)定性更高；每個(gè)像素自帶放大器，可對特殊元素進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)整，增加儀器的準(zhǔn)確度，降低分析限，實(shí)現(xiàn)全譜掃描。采用智能控制光室充氣系統(tǒng)，儀器性能更穩(wěn)定，服務(wù)期限更長久。海量的譜線使分析不再受限，曲線分段跳轉(zhuǎn)同一元素不同譜線間實(shí)現(xiàn)無縫銜接，拓展分析范圍第三元素干擾校正使元素分析更加準(zhǔn)確，可以在用戶現(xiàn)場任意增加材料基體和分析元素而無需增加硬件，維護(hù)保養(yǎng)方便。能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料；網(wǎng)口采集傳輸，速度快，通用性更強(qiáng)。
納克(NCS)CMOS全譜直讀光譜儀Spark 8000儀器特點(diǎn):
全固態(tài)數(shù)字火花光源
能量、頻率連續(xù)可調(diào)
頻率可達(dá) 1000Hz
MTBF（平均無故障間相隔時(shí)間）＞ 5000 小時(shí)
同軸自旋式氣路激發(fā)臺
自旋氣路
增壓式自吹掃
激發(fā)充分
千次激發(fā)無需清理
恒溫系統(tǒng)
硅膠加熱膜，加熱均勻、穩(wěn)定
高精度溫控系統(tǒng)，溫度控制精度±0.1℃
多重保溫措施，隔JUE環(huán)境溫度影響，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定
自保護(hù)透鏡隔離閥
便于維護(hù)
消除誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染
采集系統(tǒng)
網(wǎng)口傳輸方式，數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠
多線程數(shù)據(jù)采集，采集速度快、頻率高
第三元素干擾
自動扣除元素間加合、倍增干擾，分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
分析軟件
簡潔清新、功能強(qiáng)大
多語言版本（中、英、俄、德）
智能冶煉配料計(jì)算
牌號識別
支持碳當(dāng)量等自動計(jì)算功能
曲線分段跳轉(zhuǎn)
元素含量高低曲線分段，自動匹配，分析范圍廣
未知樣品自動匹配Z佳分析程序
高速智能校正
單次激發(fā)即可校正全譜
自動校準(zhǔn)像素漂移，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
納克(NCS)CMOS全譜直讀光譜儀Spark 8000主要技術(shù)參數(shù)：
像素?cái)?shù) 4096
像素尺寸 8μm
光柵焦距 500mm
刻線 2700 條 /mm
線分辨率 0.7407nm/mm
像素分辨率0.005926nm
譜線范圍 130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）
頻率 1000Hz
電源要求 220V±10%，單相，16A，2.5KVA
重 量 70kg
外形尺寸 500cm×825cm×451cm（寬 * 深 * 高）
